Shadow 是一种易于使用的直接测量系统，适用于最大 3.5 毫米的幅材

Shadow 的工作原理是测量辊上的激光遮挡。

它是一个直接测量系统，因此与薄膜的特性无关。

影子是一种非核技术，不需要许可或保护措施。

应用领域

阴影对材质属性、透明度、颜色和不透明度不敏感。 Shadow可以测量单层、多层和压花材料的总厚度。

应用包括：

挤出片材、泡沫、复合材料、多层/压花材料、压延片材、橡胶、涂层基材、无纺布。

咨询电话：13522079385

← 500 毫米 - 8 米 →

阴影宽度为 500 毫米至 8 米

≤3微米

超精密厚度测量，精度≤ 3 ?m

≤3.5毫米

Shadow适合材料厚度达3.5毫米

测量原理

激光遮光/涡流

传感器头包含 2 个传感器：激光阴影传感器和涡流传感器。遮光传感器将激光束发送到测量辊和待测量的薄膜上。接收器（线扫描相机）检测胶片和滚筒的阴影。涡流传感器永久测量传感器头到测量辊的距离。两次测量的结果直接给出薄膜的厚度。

校准

无需校准。该测量与薄膜特性无关。

技术规格：

技术规格   阴影

传感器系统   激光遮挡/涡流

最大限度 厚度 3.5毫米

测量切割 5.5毫米

传感器直径 30毫米

测量光斑直径 0.5毫米

传感器分辨率 0.5微米

重复性 ≤ ± 1.5 微米

测量速度 10 – 300 毫米/秒可调

处理速度 10 – 500 毫米/秒可调

校准 不强制

基准辊直径 200毫米